電涌的起源與影響

電涌的起源與影響

電磁兼容學科是由干擾源(發射機)、耦合機制(路徑)和潛在敏感設備(接收機)組成的干擾模型發展而來的。

下述6種干擾源的傳導干擾和干擾輻射會危及含有敏感電子設備的電氣系統:

(1)直接和鄰近的雷電放電

雷電電磁脈沖(LEMP):主要是傳導干擾，如雷電流和分雷電流、被擊系統的電位升高等，也有干擾輻射。

(2)電力系統開關操作

操作電磁脈沖(SEMP):主要是傳導干擾和磁干擾輻射。

(3)電力系統的擾動

主要是傳導干擾，伴有電壓畸變。

(4)靜電放電

(ESD):主要是火花放電的傳導干擾。

(5)低頻和高頻發射機

造成連續的干擾輻射。

(6)核爆炸

核電磁脈沖(NEMP):伴有脈沖式的干擾輻射。

干擾源和潛在敏感設備之間的耦合可以通過傳導和/或輻射(電場、磁場或電磁場輻射)實現。耦合路徑可以在等效電路圖中用電阻和/或電容和/或電感的組合來描述。

潛在敏感設備即帶有電子設備和設施的電氣系統，包括電信系統。在防雷保護工程中，從 EMC的角度來看，會場和有起火爆炸危險的場所被認為是含有潛在敏感設備的。這種潛在敏感設備可能存在于(i)商業區(如工業、貿易、商業、農業、銀行和保險大樓);(ii)公共場所(如醫院、會場、空中交通控制設施、博物館、教堂和運動設施);(iii)私人場所。